Home arrow บทความฟิสิกส์ arrow กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แรงของอะตอม (Atomic force microscopy)
Home    Contacts



กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แรงของอะตอม (Atomic force microscopy) PDF พิมพ์

แนวคิดของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แรงของอะตอม หรือ  AFM

         กล้องจุลทรรศน์แบบนี้ เป็นกล้องที่อาศัยเข็มขนาดเล็กกวาดไปบนพื้นผิวของชิ้นงานตัวอย่าง    เราสามารถวัดคุณสมบัติของพื้นผิวชิ้นงานได้  ดังเช่น  ความสูง   การดูดกลืนแสง  หรือ สนามแม่เหล็กเป็นต้น  เนื่องจากปลายเข็มมีขนาดเล็กมาก  จึงสามารถที่จะตรวจสอบได้ในบริเวณที่เล็กมากๆ  ถึงขนาดระดับอะตอม   เข็มจะกวาดไปบนพื้นผิว  และแปรผลที่ได้ออกเป็นภาพกราฟฟิกทางคอมพิวเตอร์

ภาพจากกล้องจุลทรรศ  คลิกค่ะ

 คลิกค่ะ
 
< ก่อนหน้า   ถัดไป >
สถิติผู้เยี่ยมชม: 36324858

สมัครสมาชิก
เพื่อรับเอกสารเพิ่ม!